数显介质损耗测试装置

   SWY916D介质损耗测试装置与SWY2851D、SWY2852D、SWY2853D Q表及电感器配用，能对绝缘材料进行高频介质损耗角正切值(tanδ)和介电常数(ε)的测试。它符合国标GB/T 1409-2006,GB/T 1693-2007,美标ASTM D150以及IEC60250规范要求。
  本测试装置是由测微平板电容器组成，平板电容器一般用来夹被测样品，配用Q表作为指示仪器。绝缘材料的损耗角正切值是通过被测样品放进平板电容器和不放进样品的Q值变化和厚度的刻度读数变化通过公式计算得到。同样，由平板电容器的刻度读数变化，通过公式计算得到介电常数。

1工作特性
1.1 平板电容器：
1.1.1 极片尺寸：
  SWY916D-38：Φ38mm.
  SWY916D-50：Φ50mm. 
1.1.2 极片间距可调范围和分辨率：
  ≥8mm， ±0.002mm
1.2 夹具插头间距：
  25mm±1mm
1.3夹具损耗角正切值
  ≤2.5×10-4

产品留言

标题

联系人

联系电话

内容

验证码

点击换一张

注：1.可以使用快捷键Alt+S或Ctrl+Enter发送信息!
2.如有必要,请您留下您的详细联系方式!